掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可用于觀察物質表面形貌和結構，它與光學顯微鏡相比，具有更高的放大倍數(shù)和更大的深度焦距，可以獲得更清晰、更詳細的物體表面信息。在繼承了Phenom（飛納）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質圖像、售后無憂等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。采用了壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
掃描電子顯微鏡功能如下：
大深度焦距：掃描電子顯微鏡的深度焦距比普通顯微鏡大很多，可以同時觀察到不同深度的物體表面信息。
高分辨率：掃描電子顯微鏡具有非常高的分辨率，可達到納米級別，能夠顯示出非常微小的物體表面的細節(jié)。
圖像處理：掃描電子顯微鏡的圖像可以進行數(shù)字化處理和增強，可用于三維重建、表面形貌分析、化學成分分析等。
種類繁多：目前已經(jīng)研究開發(fā)了多種不同類型的掃描電子顯微鏡，包括FE-SEM、VP-SEM、EBSD等，可廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、納米科技等領域。
掃描電子顯微鏡的應用前景非常廣闊。它可以被廣泛應用于各個領域，如從納米材料到生物醫(yī)學、從環(huán)境污染到化學分析等。許多新興領域的發(fā)展都離不開SEM技術的支持，如納米科技、光電子學和能源材料等。此外，隨著SEM技術的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，其應用前景也將不斷拓展。
當使用掃描電子顯微鏡時，需要注意相關安全操作規(guī)程和維護保養(yǎng)要求。例如，禁止在真空環(huán)境下打開或關閉電子槍或樣品室門，以避免產(chǎn)生危險的壓力變化；定期清潔顯微鏡和樣品，以確保儀器正常工作和圖像質量。
